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光學薄膜厚度測量儀F37
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單價： 面議
起訂： 1 1臺
供貨總量： 1 1臺
發貨期限： 自買家付款之日起 天內發貨
所在地：
有效期至： 長期有效
最后更新： 2021-04-22
瀏覽次數： 8390
詢價
公司基本資料信息
 
 
產品詳細說明
  • 產品型號：F37
  • 產品規格：臺
  • 原 產 地：美國
  • 適用范圍：可以測量平滑和半透明的，或者輕度吸收的薄膜。 這實際上包括那些使用在薄膜光伏產品內的任何半導體材料。
  • 詳細描述：產品簡介：
             用F37實時測量沉積率、沉積層厚度、光學常數（n和k值）和半導體以及電介質層的均勻性。
             樣品層：
             可以測量平滑和半透明的，或者輕度吸收的薄膜。 這實際上包括那些使用在薄膜光伏產品內的任何半導體材料。
    產品特性：
             極大地提高生產率
             快速—幾秒鐘完成測量
             精確—測量精度高于±1%
             低成本—幾個月就能回收其自身的成本
             非侵入式—測試完全在沉積室以外進行
             易于使用—直觀的Windows™ 軟件
  • 售后服務：
 
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